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J-GLOBAL ID：200902113142377889   Reference number：97A0775307

Sharpening Processes of Scanning Tunneling Microscopy/Scanning Tunneling Spectroscopy Tips by Thermal Field Treatment.

熱電場処理による走査型トンネル顕微鏡法/走査型トンネル分光法用の探針の先鋭化過程

Author (3)： NAGAI M (Japan Advanced Inst. Sci. and Technol., Hokuriku, Ishikawa, JPN) ,  TOMITORI M (Japan Advanced Inst. Sci. and Technol., Hokuriku, Ishikawa, JPN) ,  NISHIKAWA O (Kanagawa Inst. Technol., Kanazawa-South, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 36  Issue： 6B  Page： 3844-3849  Publication year： Jun. 1997 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： heat treatment ,...
Semi thesaurus term： field emission electron microscope

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JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (13)：

• 1) M. Tomitori, K. Sugata, G. Okuyama and H. Kimata: Surf. Sci. 355 (1996) 21.
• 2) J. P. Pelz: Phys. Rev. B43 (1991) 6746
• 3) R. M. Feenstra: Surf. Sci. 299/300 (1994) 965.
• 4) J. A. Vlasov, O. L. Golubev and V. N. Shrednik: J. Phys. (Paris). 49 (1988) C6-131.
• 5) V. G. Butenko, Yu. A. Vlasov, O. L. Golubev and V. N. Shrednik: Surf. Sci. 266 (1992) 165.

Terms in the title (6)： 電場 ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  走査型トンネル分光法 ,  探針 ,  先鋭化 ,  過程