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J-GLOBAL ID：200902114005389906   Reference number：02A0442600

Degradation Behavior of 850-nm Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers With an Air-Post Index-Guide Structure.

エアポスト屈折率導波構造の850nm垂直共振器面発光レーザの劣化挙動

Author (6)： TAKESHITA T (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  KAGAWA T (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  TATENO K (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  TADANAGA O (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  TOHMORI Y (NTT Corp., Kanagawa, JPN) ,  AMANO C (NTT Corp., Kanagawa, JPN)
Material： Journal of Lightwave Technology  (J Lightwave Technol)
Volume： 20  Issue： 4  Page： 722-729  Publication year： Apr. 2002 
JST Material Number： H0922A  ISSN： 0733-8724  CODEN： JLTEDG  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： reliability(property) ,...
Semi thesaurus term： *VCSEL ,...

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JST classification (1)： Semiconductor lasers  (BD04070L)

Terms in the title (7)： エア ,  屈折率 ,  導波 ,  垂直 ,  共振器 ,  面発光レーザ ,  挙動