Art

J-GLOBAL ID：200902114018984749   Reference number：03A0061016

X線スライサーを用いた最新電子ボード検査 (第2報)

Author (6)： MISAWA MASAKI (産業技術総合研) ,  TESEANU ION (産業技術総合研) ,  HIRASHIMA RYUSUKE (ユニハイトシステム) ,  KOIZUMI KAZUTO (ユニハイトシステム) ,  IKEDA YASUSHI (ファインセラミックセンター) ,  MIZUTA YASUTOSHI (ファインセラミックセンター)
Material： 日本非破壊検査協会大会講演概要集  (日本非破壊検査協会秋季大会講演概要集)
Volume： 2002  Issue： 春季  Page： 117-120  Publication year： May. 28, 2002 
JST Material Number： L1257A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X-ray ,...
Semi thesaurus term： slicer

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0061016&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L1257A") }}

JST classification (2)： Nondestructive testing  (HB02030F) ,  Connecting parts  (NA05050Z)

Terms in the title (5)： X線 ,  スライサー ,  電子 ,  ボード ,  検査