Art

J-GLOBAL ID：200902114826225251   Reference number：00A0331699

Compression-induced effect on the electronic structure of cyclotrimethylene trinitramine containing an edge dislocation.

刃状転位を含むシクロトリメチレントリニトラミンの電子構造に及ぼす圧縮誘起効果

Author (2)： KUKLJA M M (Michigan Technological Univ., Michigan) ,  KUNZ A B (Michigan Technological Univ., Michigan)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 87  Issue： 5  Page： 2215-2218  Publication year： Mar. 01, 2000 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *optical gap ,...
Semi thesaurus term： *pressure dependence

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JST classification (2)： Electronic structure of impurites and defects  (BM02100I) ,  Explosive industry in general  (YE06010L)

Substance index (1)： RDX

Terms in the title (3)： 刃状転位 ,  シクロトリメチレントリニトラミン ,  電子構造