Art

J-GLOBAL ID：200902116849571796   Reference number：99A0717146

Towards sub-Å electron beams.

sub-Å電子ビームに向けて

Author (3)： KRIVANEK O L (Nion R&D, WA, USA) ,  DELLBY N (Nion R&D, WA, USA) ,  LUPINI A R (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
Material： Ultramicroscopy
Volume： 78  Issue： 1/4  Page： 1-11  Publication year： Jun. 1999 
JST Material Number： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  Document type： Article
Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (1)： 電子ビーム