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J-GLOBAL ID：200902117938226888   Reference number：96A0104091

On the possibilities of x-ray phase contrast microimaging by coherent high-energy synchrotron radiation.

コヒーレント高エネルギーシンクロトロン放射を用いたX線位相差顕微撮像法の可能性

Author (5)： SNIGIREV A (ESRF, Grenoble, FRA) ,  SNIGIREVA I (ESRF, Grenoble, FRA) ,  KOHN V (Russian Res. Centre, “Kurchatov Inst.”, Moscow, SUN) ,  KUZNETSOV S (Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN) ,  SCHELOKOV I (Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 66  Issue： 12  Page： 5486-5492  Publication year： Dec. 1995 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： coherent light ,...

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JST classification (1)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Terms in the title (7)： コヒーレント ,  高エネルギー ,  シンクロトロン放射 ,  X線 ,  位相差 ,  撮像 ,  可能性