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J-GLOBAL ID：200902119257607541   Reference number：99A0170292

TEM study of metallic contacts to porous silicon.

多孔質シリコンに対する金属接触のTEM研究

Author (5)： MARTIN-PALMA R J (UAM, Madrid, ESP) ,  HERRERO P (CSIC, Madrid, ESP) ,  GUERRERO-LEMUS R (UAM, Madrid, ESP) ,  MORENO J D (UAM, Madrid, ESP) ,  MARTINEZ-DUART J M (UAM, Madrid, ESP)
Material： Electron Microscopy, 1998, Vol.3  (Electron Microsc 1998 Vol 3)
Page： 457-458  Publication year： 1998 
JST Material Number： K19980672  ISBN： 0-7503-0568-1  Document type： Proceedings
Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (3)： 多孔質シリコン ,  TEM ,  研究