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J-GLOBAL ID：200902121348675757   Reference number：02A0800116

Electrical Impact of High-Speed Bus Crossing Plane Split.

高速バスと交差するプレーンスプリットの電気的影響

Author (4)： CHEN J (Intel Corp., OR, USA) ,  SHI W (Intel Corp., OR, USA) ,  NORMAN A J (Intel Corp., OR, USA) ,  ILAVARASAN P (Intel Corp., OR, USA)
Material： IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility  (IEEE National Symposium on Electromagnetic Compatibility)
Volume： 2002  Issue： Vol.2  Page： 861-865  Publication year： 2002 
JST Material Number： E0041A  ISSN： 2158-110X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *printed board ,...

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JST classification (1)： Printed circuits  (NA05040O)

Terms in the title (2)： バス ,  交差