Art

J-GLOBAL ID：200902122229418114   Reference number：02A0862254

Differential x-ray phase contrast imaging using a shearing interferometer.

シヤリング干渉計を用いた微分X線位相コントラスト成像

Author (4)： DAVID C (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  NOEHAMMER B (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  SOLAK H H (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  ZIEGLER E (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 81  Issue： 17  Page： 3287-3289  Publication year： Oct. 21, 2002 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *shearing interferometer ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0862254&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

JST classification (1)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Terms in the title (5)： シヤリング干渉計 ,  微分 ,  X線 ,  位相コントラスト ,  成像