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J-GLOBAL ID：200902122554703240   Reference number：99A0116814

Towards 0.1 nm resolution with the first spherically corrected transmission electron microscope.

初めて球面収差を補正した透過型電子顕微鏡による0.1nmの解像度に向かって

Author (5)： HAIDER M (CEOS GmbH, Heidelberg, DEU) ,  ROSE H (Technische Univ. Darmtadt, Darmstadt, DEU) ,  UHLEMANN S (CEOS GmbH, Heidelberg, DEU) ,  KABIUS B (Forschungszentrum Juelich, Juelich, DEU) ,  URBAN K (Forschungszentrum Juelich, Juelich, DEU)
Material： Journal of Electron Microscopy  (電子顕微鏡学会誌)
Volume： 47  Issue： 5  Page： 395-405  Publication year： 1998 
JST Material Number： G0104A  ISSN： 0022-0744  Document type： Article
Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Reference (31)：

• ABBE, B. Die Lehre von der Bildentstehung im Mikroskop. 1910
• KNOLL, M. Das Elektronenmikroskop. Z. Phys. 1932, 78, 318-339
• SCHERZER, O. Uber einige Fehler von Elektronenlinsen. Z. Phys. 1936, 101, 593-603
• SCHERZER, O. Spharische und chromatische Korrektur von Elektronen-Linsen. Optik. 1947, 2, 114-132
• SEELIGER, R. Versuche zur spharischen Korrektur von Elektronenlinsen mittels nichtrotationssymmetrischer Abbildungs-elemente. Optik. 1949, 5, 490-496

Terms in the title (3)： 球面収差 ,  透過型電子顕微鏡 ,  解像度