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J-GLOBAL ID：200902128586767524   Reference number：00A0548894

GDOES Depth Profiling Analysis and Cross-sectional Transmission Electron Microscopy of a Ni-P/Al Hard Disk Substrate.

Ni-P/Alハードディスク基板のGDOESによる分析および断面TEMによる観察

Author (4)： SHIMIZU KEN'ICHI (慶応大 経済) ,  HABAZAKI HIROKI (東北大 金材研) ,  SKELDON P (UMIST, Manchester, GBR) ,  THOMPSON G E (UMIST, Manchester, GBR)
Material： 表面技術  (Journal of the Surface Finishing Society of Japan)
Volume： 51  Issue： 5  Page： 518-523  Publication year： May. 01, 2000 
JST Material Number： G0441B  ISSN： 0915-1869  CODEN： HYGIEX  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： magnetic disk ,...
Semi thesaurus term： interfacial structure ,...

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JST classification (3)： Electronic recording,magnetic recording,optical recording  (NC06020F) ,  Surface treatment in general  (WC08010R) ,  Physical analysis of metals and alloys  (CC03040V)

Reference (12)：

• 斎藤昌弘. 表面技術. 1997, 48, 982
• SHIMIZU, K. Surf. Interface Anol. 1999, 27, 950
• SHIMIZU, K. Surf. Interface Anol. 2000, 29, 151
• 田代雄彦. 表面技術. 1999, 50, 14
• PAYLING, D. Spectroscopy. 1998, 13, 36

Terms in the title (7)： Ni ,  Al ,  ハードディスク基板 ,  GDOES ,  分析 ,  断面TEM ,  観察