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J-GLOBAL ID：200902128756560296   Reference number：95A0554561

Effect of STM tip geometry on the field strength and its distribution on the sample surface.

試料表面での電界強度とその分布に及ぼすSTM探針形状の影響

Author (2)： KOBAYASHI ATARU (金沢工大) ,  AONO MASAKAZU (理研)
Material： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
Volume： 42nd  Issue： Pt 2  Page： 473  Publication year： Mar. 1995 
JST Material Number： Y0054A  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (5)： 試料表面 ,  電界強度 ,  分布 ,  STM ,  探針