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J-GLOBAL ID：200902129115892155   Reference number：02A0359049

Scanning magnetoresistance microscopy with a magnetoresistive sensor cantilever.

磁気抵抗センサのカンチレバーを用いた走査型磁気抵抗顕微鏡法

Author (4)： NAKAMURA M (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  KIMURA M (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  SUEOKA K (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  MUKASA K (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 80  Issue： 15  Page： 2713-2715  Publication year： Apr. 15, 2002 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *magnetoresistance effect ,...
Semi thesaurus term： 走査型磁気抵抗顕微鏡

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (5)： 磁気抵抗センサ ,  カンチレバー ,  走査型 ,  磁気抵抗 ,  顕微鏡法