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J-GLOBAL ID：200902130982505995   Reference number：98A0245084

Degradation process in polymeric electroluminescent devices.

高分子エレクトロルミネセンスデバイスにおける劣化過程

Author (7)： DO L-M (Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR) ,  CHOI K-H (Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR) ,  LEE H-M (Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR) ,  HWANG D-H (Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR) ,  JUNG S-D (Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR) ,  SHIM H-K (Korea Advanced Inst. Sci. and Technol., Taejon, KOR) ,  ZYUNG T (Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR)
Material： Synthetic Metals  (Synth Met)
Volume： 91  Issue： 1/3  Page： 121-122  Publication year： Dec. 1997 
JST Material Number： C0123B  ISSN： 0379-6779  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *light emitting diode ,...
Semi thesaurus term： ITO(solid solution)

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JST classification (1)： Light emitting devices  (NC03082G)

Terms in the title (3)： 高分子 ,  エレクトロルミネセンスデバイス ,  劣化過程