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J-GLOBAL ID：200902131162767533   Reference number：98A0729141

Microanalysis by monochromatic microprobe x-ray fluorescence. Physical basis, properties, and future prospects.

単色光微細プローブX線蛍光による微量分析 物理的基礎,特性,および将来の見通し

Author (2)： CHEN Z W (Univ. Southern California, California) ,  WITTRY D B (Univ. Southern California, California)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 84  Issue： 2  Page： 1064-1073  Publication year： Jul. 15, 1998 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *energy dispersive X-ray fluorescence analysis ,...

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JST classification (2)： Physical analysis of elements in inorganic substances  (CC03022H) ,  X-ray spectra in general.Including X-ray  (BM08101P)

Terms in the title (9)： 単色光 ,  微細 ,  プローブ ,  X線 ,  蛍光 ,  微量分析 ,  物理 ,  基礎 ,  見通し