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J-GLOBAL ID：200902131293551900   Reference number：96A0521838

IBM experiments in soft fails in computer electronics (1978-1994).

コンピュータエレクトロニクスにおけるソフトエラーに関するIBM社の実験(1978-1994)

Author (9)： ZIEGLER J F (IBM Res. Div., New York) ,  CURTIS H W (IBM Res. Div., New York) ,  MUHLFELD H P (IBM Microelectronics Div., New York) ,  WANG W Y (IBM Systems Technol. and Architecture Div., Texas) ,  ORRO J M (Personal Computer Co., North Carolina) ,  ENGER T A (IBM System/390 Div., New York) ,  TOLAT V (IBM Corp.) ,  TABER A H (Loral Federal Systems Co., New York) ,  WAHAUS C W (IBM Corp.)
Material： IBM Journal of Research and Development  (IBM J Res Dev)
Volume： 40  Issue： 1  Page： 3-18  Publication year： Jan. 1996 
JST Material Number： D0061B  ISSN： 0018-8646  CODEN： IBMJAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： LSI ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (5)： コンピュータ ,  エレクトロニクス ,  ソフトエラー ,  IBM ,  実験