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J-GLOBAL ID：200902134078168720   Reference number：02A0011934

無機マテリアルに見るナノの世界 原子間力顕微鏡(AFM)によるナノマテリアルの評価

Author (1)： SHINDO HITOSHI (中央大 理工)
Material： Journal of the Society of Inorganic Materials, Japan  (J Soc Inorg Mater Jpn)
Volume： 8  Issue： 295  Page： 593-600  Publication year： Nov. 01, 2001 
JST Material Number： F0275A  ISSN： 1345-3769  CODEN： JSIJFR  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *inorganic material ,...
Semi thesaurus term： exploratory needle

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (38)：

• 1) 材料技術研究協会表面改質研究会編, “実用表面改質技術総覧”, 産業技術サービスセンター (1993) p. 500.
• 2) 野副尚一, 宮本宏, 新藤斎, “STM/AFMが開く新しい化学・バイオの世界”, ぶんしん出版 (1997).
• 3) 岩澤, 梅沢, 沢田, 辻井監修, “界面ハンドブック”, NTS出版 (2001) p. 353.
• 4) 日本化学会編, “季刊化学総説No.26表面のアトムプロセス”, 学会出版センター (1995) p. 160.
• 5) 新藤斎, 日本海水学会誌, 51, 12 (1997).

Terms in the title (6)： マテ ,  世界 ,  原子間力顕微鏡 ,  AFM ,  ナノマテリアル ,  評価