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J-GLOBAL ID：200902135282111351   Reference number：99A0830389

Precise Analysis of a Very Small Mineral by an X-Ray Diffraction Method.

X線回折法による極微小鉱物の精密分析

Author (1)： NAKAMUTA YOSHIHIRO (九大 理)
Material： 鉱物学雑誌  (Journal of the Mineralogical Society of Japan)
Volume： 28  Issue： 3  Page： 117-121  Publication year： Aug. 31, 1999 
JST Material Number： G0124A  ISSN： 0454-1146  CODEN： KOBZAI  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-Ray Diffraction ,...
Semi thesaurus term： Gandolfiカメラ ,...

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JST classification (2)： Mineralogy in general  (DE08010E) ,  Physical analysis of minerals,rocks,ores  (CC03090Y)

Reference (15)：

• 1) 中牟田義博(1993): Gandolfiカメラを用いた微小結晶の格子定数の測定.鉱物学雑誌, 22, 113-122.
• 2) Gandolfi, G.(1964): Metodo per ottenere uno «spettro di polveri» da un cristallo singolo di piccole dimensioni (fino a 30μ). Miner. Petrogr. Acta, 10, 149-156.
• 3) Gandolfi, G.(1967): Discussion upon methods to obtain X-ray «powder patterns» from a single crystal. Miner. Petrogr. Acta, 13, 67-74.
• 4) Klug, H. P. and Alexander, L. E.(1974): X-ray diffraction procedures. John Wiley and Sons, New York, pp. 271-418.
• 5) Hubbard, C. R., Swanson, H. E. and Mauer, F. A.(1975): A silicon powder diffraction standard reference material. J. Appl. Cryst., 8, 45-48.

Terms in the title (5)： X線回折法 ,  微小 ,  鉱物 ,  精密 ,  分析