Art

J-GLOBAL ID：200902135866918133   Reference number：03A0012589

Determining the carrier-envelope offset frequency of 5-fs pulses with extreme nonlinear optics in ZnO.

ZnOにおける極端非線形光学を用いた5fsパルスのキャリアエンベロープオフセット周波数の決定

Author (5)： MUECKE O D (Univ. Karlsruhe (TH), Karlsruhe, DEU) ,  TRITSCHLER T (Univ. Karlsruhe (TH), Karlsruhe, DEU) ,  WEGENER M (Univ. Karlsruhe (TH), Karlsruhe, DEU) ,  MORGNER U (Univ. Karlsruhe (TH), Karlsruhe, DEU) ,  KAERTNER F X (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts)
Material： Optics Letters  (Opt Lett)
Volume： 27  Issue： 23  Page： 2127-2129  Publication year： Dec. 01, 2002 
JST Material Number： H0690A  ISSN： 0146-9592  CODEN： OPLEDP  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *frequency measurement ,...
Semi thesaurus term： キャリアエンベロープオフセット周波数 ,...

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JST classification (2)： Nonlinear optics  (BD05000T) ,  Lasers in general  (BD04030T)

Terms in the title (3)： ZnO ,  非線形光学 ,  パルス