Art

J-GLOBAL ID：200902137227283600   Reference number：97A0945304

Microprobe x-ray fluorescence with the use of point-focusing diffractors.

点集束回折器を用いたマイクロプローブ蛍光X線

Author (2)： CHEN Z E (Univ. Southern California, California) ,  WITTRY D B (Univ. Southern California, California)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 71  Issue： 13  Page： 1884-1886  Publication year： Sep. 29, 1997 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X-ray fluorescence analysis ,...
Semi thesaurus term： X-ray microprobe

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JST classification (2)： Other methods of structure determination  (BK01070L) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (5)： 点 ,  集束 ,  回折 ,  マイクロプローブ ,  蛍光X線