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J-GLOBAL ID：200902140838782343   Reference number：01A0559307

Electronic structures of TPD/metal interfaces studied by photoemission and Kelvin probe method.

光電子放出とKelvinプローブ法によるTPD/金属界面の電子構造の評価

Author (6)： ITO E (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  OJI H (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  HAYASHI N (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  ISHII H (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  OUCHI Y (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  SEKI K (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
Material： Applied Surface Science  (Appl Surf Sci)
Volume： 175/176  Page： 407-411  Publication year： May. 15, 2001 
JST Material Number： B0707B  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *organic semiconductor ,...

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JST classification (2)： Electronic structure of surfaces  (BM02080J) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Substance index (1)： TPD

Terms in the title (6)： 光電子放出 ,  Kelvinプローブ ,  TPD ,  界面 ,  電子構造 ,  評価