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J-GLOBAL ID：200902142206453533   Reference number：99A0395299

Total Reflection X-Ray Fluorescence Using a Compact Synchrotron Radiation Source.

小型放射光源を用いた全反射蛍光X線分析

Author (5)： SAISHO HIDEO (立命館大) ,  MATSUDA TOSHIO (立命館大 理工) ,  IKEDA SHIGERO (立命館大) ,  YAMADA TAKASHI (理学電機 X線研) ,  AMANO DAIZO (住友重機械工業 量子技研)
Material： X線分析の進歩  (X線工業分析)
Volume： 30  Page： 233-242  Publication year： Mar. 31, 1999 
JST Material Number： Z0547B  ISSN： 0911-7806  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *synchrotron radiation ,...
Semi thesaurus term： total reflection X-ray fluorescence

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JST classification (2)： Physical analysis of inorganic compounds  (CC03024P) ,  X-ray spectra  (BH03040J)

Terms in the title (2)： 放射光 ,  全反射蛍光X線分析