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J-GLOBAL ID：200902142493943260   Reference number：01A1066348

Evaluation of Si(Li) Detectors by a Combination of the Copper Plating Method and X-Ray Analytical Microscopy.

銅めっき法とX線解析マイクロスコピーの組合せによるSi(Li)検出器の評価

Author (4)： KUME H (National Inst. Environmental Studies, Tsukuba, JPN) ,  ONABE H (Raytech Co., Ltd., Utsunomiya, JPN) ,  OBINATA M (Tohnic Co., Ltd., Chigasaki, JPN) ,  KASHIWAGI T (Kanagawa Univ., Yokohama, JPN)
Material： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Trans Nucl Sci)
Volume： 48  Issue： 4,Pt.1  Page： 1012-1015  Publication year： Aug. 2001 
JST Material Number： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Li drifted Si detector ,...

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JST classification (1)： Radiation spectroscopy and spectrometers  (AD08030U)

Terms in the title (8)： 銅めっき ,  X線解析 ,  マイクロスコピー ,  組合せ ,  Si ,  Li ,  検出器 ,  評価