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J-GLOBAL ID：200902145935597641   Reference number：99A0622311

Trend of Detection Techniques Using Planar-Type Micro-Eddy-Current Testing Probes.

プレーナ形マイクロうず電流プローブによる探傷技術の動向

Author (2)： YAMADA SOTOSHI (金沢大 工) ,  IWAHARA MASAYOSHI (金沢大 工)
Material： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
Volume： 23  Issue： 7  Page： 1817-1825  Publication year： Jul. 01, 1999 
JST Material Number： Z0944A  ISSN： 0285-0192  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *electromagnetic induction inspection ,...

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JST classification (1)： Nondestructive testing  (HB02030F)

Terms in the title (6)： プレーナ ,  マイクロ ,  うず電流 ,  プローブ ,  傷 ,  動向