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J-GLOBAL ID：200902147431452297   Reference number：99A0603115

Assessment of homogeneity of candidate reference material at the nanogram level and investigation on representativeness of single particle analysis using electron probe X-ray microanalysis.

電子プローブX線マイクロアナリシスによるナノグラムレベルでの標準候補物質の均一性の評価及び単一粒子分析の代表性の研究

Author (3)： RO C-U (Hallym Univ., KangWonDo, KOR) ,  HOORNAERT S (Univ. Antwerp(UIA), Antwerpen-Wilrijk, BEL) ,  VAN GRIEKEN R (Univ. Antwerp(UIA), Antwerpen-Wilrijk, BEL)
Material： Analytica Chimica Acta  (Anal Chim Acta)
Volume： 389  Issue： 1/3  Page： 151-160  Publication year： May. 14, 1999 
JST Material Number： A0394A  ISSN： 0003-2670  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *standard substance ,...
Semi thesaurus term： Kolmogorov-Smirnov統計解析 ,...

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JST classification (1)： Analytical chemistry in general  (CC02010H)

Terms in the title (7)： 電子プローブX線マイクロアナリシス ,  標準 ,  物質 ,  均一性 ,  評価 ,  粒子分析 ,  研究