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J-GLOBAL ID：200902147524134902   Reference number：99A0036589

Femtosecond spectrum sampling technology and its applications to nonlinear spectroscopy of semiconductors.

フェムト秒スペクトル計測技術および半導体非線形分光への応用

Author (1)： OGAWA KENSUKE (フェムト秒テクノロジー研究機構)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 98  Issue： 342(LQE98 73-87)  Page： 59-64  Publication year： Oct. 21, 1998 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： femtosecond ,...
Semi thesaurus term： nonlinear spectroscopy

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (5)：

• EDELSTEIN, D. C. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 579
• OGAWA, K. Ultrafast Phenomena 1998 Technical Digest. 1998, 32
• OGAWA, K. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 297
• WEGENER, M. Phys. Rev. B. 1989, B39, 12974
• SHEN, Y. R. The Principles of Nonlinear Optics. 1984, 325

Terms in the title (5)： フェムト秒 ,  スペクトル計測 ,  非線形 ,  分光 ,  応用