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J-GLOBAL ID：200902149438150736   Reference number：99A0228922

Image Analysis of Elemental X-ray Maps Obtained by the Scanning X-ray Analytical Microscope: Transformation from X-ray Maps to Mineral Maps.

走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成

Author (5)： TOGAMI SHOJI (名古屋大 理) ,  TAKANO MASAO (名古屋大 理) ,  MICHIBAYASHI KATSUYOSHI (静岡大 理) ,  MURAKAMI MASAMI (静岡大 理) ,  KUMAZAWA MINEO (名古屋大 理)
Material： 鉱物学雑誌  (Journal of the Mineralogical Society of Japan)
Volume： 27  Issue： 4  Page： 203-212  Publication year： Nov. 1998 
JST Material Number： G0124A  ISSN： 0454-1146  CODEN： KOBZAI  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning optical microscope ,...
Semi thesaurus term： 走査型X線分光顕微鏡

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JST classification (1)： Igneous rocks in general  (DE07030T)

Reference (21)：

• 升本真二. デジタル画像処理の岩石記載への適用. 情報地質. 1982, 7, 55-66
• 池田進. 岩石組織の画像解析 その自動化における現状と問題点-. 鉱物学雑誌. 1997, 26, 185-196
• PETRUK, W. (ed.). Image Analysis in Earth Sciences. Mineralogical Association of Canada, Short course handbook. 1989, 16, 156
• ROBINSON, B. W. A useful new technique for mineralogy: the backscattered-electron / low vacuum mode of SEM operation. Am. Mineral. 1979, 64, 1322-1328
• HALL, M. G. The SEM examination of geological samples with a semiconductor back-scattered electron detector. Am. Mineral. 1981, 66, 362-368

Terms in the title (6)： 走査型 ,  X線分析 ,  顕微鏡画像 ,  解析 ,  鉱物 ,  分布