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J-GLOBAL ID：200902149927036970   Reference number：93A0593131

Molecular Beam Study of Materials for Vacuum Technology. (2nd Report. Improvement of Surface Characteristics by Ag Ion-Plating).

分子線による真空材料の評価 (第2報,銀イオンプレーティングによる表面改質)

Author (4)： KONDO KUNIKAZU (静岡理工科大 理工) ,  FUJIMOTO TETSUO (名古屋大 工) ,  NIIMI TOMOHIDE (名古屋大 工) ,  SHOBATAKE KOSUKE (分子科研)
Material： 日本機械学会論文集 B編  (Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Series B)
Volume： 59  Issue： 562  Page： 1946-1952  Publication year： Jun. 1993 
JST Material Number： F0036B  ISSN： 0387-5016  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： rarefied gas flow ,...

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JST classification (1)： Rarefied gas dynamics  (BC04000J)

Reference (4)：

• (1) 近藤•ほか3名,機論,59-560,B(1993),1057.
• (2) 藤本•ほか2名,機論,51-461,B(1985),365.
• (3) Rettner, C.T.,ほか2名,J. Chem. Phys., 90-7 (1989), 3800.
• (4) Logan, R.M. and Stickney, R.E., J. Chem. Phys., 44 (1966), 195.

Terms in the title (6)： 分子線 ,  真空材料 ,  評価 ,  銀イオン ,  プレーティング ,  表面改質