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J-GLOBAL ID：200902157721691150   Reference number：01A0189992

Multi-Purpose Pattern-Fitting System RIETAN-2000 and its Applications to Microporous Mterials.

多目的パターン・フィッティングシステムRIETAN-2000とその微細孔物質への応用

Author (2)： IZUMI FUJIO (無機材質研) ,  IKEDA TAKUJI (無機材質研)
Material： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
Volume： 42  Issue： 6  Page： 516-521  Publication year： Dec. 22, 2000 
JST Material Number： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *structure analysis ,...
Semi thesaurus term： Le Bail法 ,...

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JST classification (1)： Structure determination and diffraction crystallography in general  (BK01010X)

Reference (33)：

• 1) F. Izumi: The Rietveld Method, ed. by R.A. Young, Chap. 13, Oxford Univ. Press, Oxford (1995) .
• 2) 泉富士夫: 波紋10 (2) , 21 (200O) .
• 3) H.M. Rietveld: J. Appl. Crystallogr. 2, 65 (1969) .
• 4) A. Le Bail, H. Duroy and J.L. Fourquet: Mater. Res. Bull. 23, 447 (1988) .
• 5) F. Izumi, S. Kumazawa, T. Ikeda and T. Ida: Powder Diffraction, ed. by S.P. Sen Gupta, p. 24, Allied Publ., New Delhi (1998) .

Terms in the title (3)： 微細孔 ,  物質 ,  応用