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J-GLOBAL ID：200902157831226984   Reference number：95A0298558

High-resolution scanning SQUID microscope.

高分解能走査型SQUID顕微鏡

Author (7)： KIRTLEY J R (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York) ,  KETCHEN M B (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York) ,  STAWIASZ K G (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York) ,  SUN J Z (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York) ,  GALLAGHER W J (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York) ,  BLANTON S H (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York) ,  WIND S J (IBM Thomas J. Watson Research Center, New York)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 66  Issue： 9  Page： 1138-1140  Publication year： Feb. 27, 1995 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： high-resolution ,...

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JST classification (1)： Josephson junction and elements  (BM04043E)

Terms in the title (2)： 高分解能 ,  走査型SQUID顕微鏡