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J-GLOBAL ID：200902159854979710   Reference number：99A0324681

Simple Method for Estimating Neutron-Induced Soft Error Rates Based on Modified BGR Model.

修正BGRモデルをベースとした中性子誘起ソフトエラー率の簡易見積り法

Author (4)： TOSAKA Y (Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN) ,  KANATA H (Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN) ,  SATOH S (Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN) ,  ITAKURA T (Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
Material： IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Lett)
Volume： 20  Issue： 2  Page： 89-91  Publication year： Feb. 1999 
JST Material Number： B0344B  ISSN： 0741-3106  CODEN： EDLEDZ  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *soft error ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (6)： モデル ,  中性子 ,  誘起 ,  ソフトエラー率 ,  簡易 ,  見積り