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J-GLOBAL ID：200902160744090988   Reference number：94A0920633

Experimental and Theoretical Investigations of Coherent OFDR with Semiconductor Laser Sources.

半導体レーザ光源を用いたコヒーレントOFDRの実験的及び理論的検討

Author (4)： PASSY R (Univ. Geneva, Geneva, CHE) ,  GISIN N (Univ. Geneva, Geneva, CHE) ,  VON DER WEID J P (Pontificia Univ. Catolica, Rio de Janeiro, BRA) ,  GILGEN H H (Swiss Telecom, Bern, CHE)
Material： Journal of Lightwave Technology  (J Lightwave Technol)
Volume： 12  Issue： 9  Page： 1622-1630  Publication year： Sep. 1994 
JST Material Number： H0922A  ISSN： 0733-8724  CODEN： JLTEDG  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： reflectometer ,...
Semi thesaurus term： OFDR

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JST classification (2)： Refractometry and reflectometry and their equipments  (BD07060V) ,  Semiconductor lasers  (BD04070L)

Terms in the title (5)： レーザ光源 ,  コヒーレント ,  OFDR ,  実験 ,  理論