Art

J-GLOBAL ID：200902161682215106   Reference number：00A0834349

Verification of singular plane formation in CdTe homoepitaxy.

CdTeホモエピタクシーにおける特異平面形成の実証

Author (4)： YOSHIOKA Y (Yamanashi Univ., Yamanashi, JPN) ,  SHIMIZU K (Yamanashi Univ., Yamanashi, JPN) ,  TAKAGAKI K (Yamanashi Univ., Yamanashi, JPN) ,  KASUGA M (Yamanashi Univ., Yamanashi, JPN)
Material： Journal of Crystal Growth  (J Cryst Growth)
Volume： 217  Issue： 1/2  Page： 102-108  Publication year： Jul. 2000 
JST Material Number： B0942A  ISSN： 0022-0248  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *epitaxy ,...

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JST classification (1)： Semiconductor thin films  (BK14040E)

Terms in the title (3)： CdTe ,  ホモエピタクシー ,  実証