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J-GLOBAL ID：200902162263314338   Reference number：02A0917440

Broadband Characterization of High-Dielectric Constant Films for Power-Ground Decoupling.

電力線-接地間デカップリングのための高誘電率膜の広帯域特性測定

Author (3)： OBRZUT J (NIST, MD, USA) ,  NODA N (NIST, MD, USA) ,  NOZAKI R (NIST, MD, USA)
Material： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Trans Instrum Meas)
Volume： 51  Issue： 4  Page： 829-832  Publication year： Aug. 2002 
JST Material Number： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *decoupling ,...

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JST classification (3)： Dielectrics in general  (BM05010F) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L) ,  Electrostatic equipment  (NB10020R)

Terms in the title (5)： 電力線 ,  接地 ,  カップリング ,  高誘電率膜 ,  広帯域