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J-GLOBAL ID：200902163285185309   Reference number：94A0491593

ON current degradation caused by negative bias stress for offset structure poly-Si TFTs.

オフセット構造poly-SiTFTにおける負バイアスon電流低下現象

Author (5)： SEGAWA YASUO (三洋電機) ,  YUDA SHINJI (三洋電機) ,  KITAI KEN'ICHI (三洋電機) ,  OIMA SUSUMU (三洋電機) ,  OKITA YUJI (三洋電機)
Material： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
Volume： 41st  Issue： Pt 2  Page： 617  Publication year： Mar. 1994 
JST Material Number： Y0054A  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (3)： オフセット ,  バイアス ,  現象