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J-GLOBAL ID：200902167793694370   Reference number：02A0920592

全反射蛍光XAFSによる酸化チタン系二次元ナノ物質の局所構造解析

Author (7)： FUKUDA KATSUTOSHI (東京理大 理) ,  NAKAI IZUMI (東京理大 理) ,  SASAKI TAKAYOSHI (物材機構 物質研) ,  EBINA YASUO (物材機構 物質研) ,  HARADA MASARU (物材機構 物質研) ,  TANAKA TOMOHIRO (物材機構 物質研) ,  WATANABE MAMORU (物材機構 物質研)
Material： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
Volume： 38th  Page： 53-54  Publication year： Oct. 28, 2002 
JST Material Number： S0881A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray fluorescence analysis ,...
Semi thesaurus term： total reflection X-ray fluorescence

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JST classification (2)： Physical analysis of inorganic compounds  (CC03024P) ,  X-ray spectra in general.Including X-ray  (BM08101P)

Terms in the title (6)： 蛍光 ,  XAFS ,  酸化チタン ,  ナノ物質 ,  局所構造 ,  解析