Art

J-GLOBAL ID：200902167930526561   Reference number：01A1035280

Optimal Design Method for Microwave Device Using Time Domain Method and Design Sensitivity Analysis. Part I. FETD Case.Case.

時間領域法と設計感度解析法を併用したマイクロ波デバイスの最適設計法 第1部 FETD法

Author (5)： CHUNG Y-S (Univ. Seoul, Seoul, KOR) ,  RYU J (Univ. Seoul, Seoul, KOR) ,  CHEON C (Univ. Seoul, Seoul, KOR) ,  PARK I-H (Sungkyunkwan Univ., Kyunggi-do, KOR) ,  HAHN S-Y (Seoul National Univ., Seoul, KOR)
Material： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Trans Magn)
Volume： 37  Issue： 5,Pt.1  Page： 3289-3293  Publication year： Sep. 2001 
JST Material Number： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *branch circuit ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=01A1035280&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=A0339B") }}

JST classification (2)： Transmission circuit elements in general  (NC04010G) ,  Electromagnetism in general  (BD01020N)

Terms in the title (7)： 時間領域法 ,  設計 ,  感度解析 ,  併用 ,  マイクロ波デバイス ,  最適設計 ,  1部