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J-GLOBAL ID：200902171755320995   Reference number：98A0468288

Chemically-Sensitive Imaging in Tapping Mode by Chemical Force Microscopy: Relationship between Phase Lag and Adhesion.

化学的力顕微鏡によるタッピングモードでの化学的増感撮像 位相の遅れと付着の関係

Author (5)： NOY A (Harvard Univ., Massachusetts) ,  SANDERS C H (Harvard Univ., Massachusetts) ,  VEZENOV D V (Harvard Univ., Massachusetts) ,  WONG S S (Harvard Univ., Massachusetts) ,  LIEBER C M (Harvard Univ., Massachusetts)
Material： Langmuir  (ACS Journal of Fundamental Interfaces Science)
Volume： 14  Issue： 7  Page： 1508-1511  Publication year： Mar. 31, 1998 
JST Material Number： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *thiol ,...

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JST classification (1)： Solid-liquid interface  (CB12050B)

Substance index (2)： 1-Hexadecanethiol ,  16-Mercaptohexadecanoic acid

Terms in the title (7)： 化学 ,  力顕微鏡 ,  タッピングモード ,  化学的増感 ,  撮像 ,  位相 ,  遅れ