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J-GLOBAL ID：200902172944733776   Reference number：93A0617725

Radiation Damage Test of Prototype Double-Sided Silicon-Microstrip-Sensor for SDS by γ rays.

SDC用試作シリコンストリップ検出器のγ線損傷実験

Author (9)： IWATA YOSEI (広島大 理) ,  AKAGI TAKASHI (東北大 理) ,  UNNO YOSHINOBU (高エネルギー物理研) ,  KOBAYASHI SHIGEHARU (佐賀大 理工) ,  DAIGO MOTOMASA (和歌山県医大) ,  TAKASHIMA TAKAICHI (京都教大 教育) ,  TAMURA NORIO (岡山大 理) ,  HIGUCHI MASATO (東北学院大 工) ,  MIYATA HITOSHI (新潟大 理)
Material： 日本物理学会講演概要集(年会)  (日本物理学会年会予稿集)
Volume： 48th  Issue： 1  Page： 38  Publication year： Mar. 1993 
JST Material Number： S0671A  ISSN： 1342-8349  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (8)： SDC ,  試作 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  γ線 ,  損傷 ,  実験