Art

J-GLOBAL ID：200902172989913635   Reference number：02A0242893

Potential shielding by the surface water layer in Kelvin probe force microscopy.

Kelvinプローブ力顕微鏡における表面水層によって遮蔽されたポテンシャル

Author (5)： SUGIMURA H (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  ISHIDA Y (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  HAYASHI K (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  TAKAI O (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  NAKAGIRI N (Nikon Co., Tokyo, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 80  Issue： 8  Page： 1459-1461  Publication year： Feb. 25, 2002 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *PN junction ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0242893&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Semiconductor-semiconductor contacts without Gr.13-15 element compounds  (BM03083P)

Terms in the title (4)： Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  水層 ,  遮蔽 ,  ポテンシャル