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J-GLOBAL ID：200902173395964597   Reference number：02A0637256

原子間力顕微鏡(AFM)を用いた一分子操作

Author (3)：
TAKEDA SEIJI

About TAKEDA SEIJI

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NAKAMURA CHIKASHI

About NAKAMURA CHIKASHI

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MIYAKE JUN

About MIYAKE JUN


Material：
化学と教育  (Chemistry & Education)

About 化学と教育


Volume： 50  Issue： 7  Page： 505-506  Publication year： Jul. 20, 2002 
JST Material Number： G0942A  ISSN： 0386-2151  CODEN： KAKYEY  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)
Thesaurus term：
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*atomic force microscope

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JST classification (2)：
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Microscopy determination of structures 
(BK01040E)

About Microscopy determination of structures

,  Molecular structure 
(EB03020Y)

About Molecular structure

Reference (2)：
  • 森田清三. はじめてのナノプローブ技術, ビギナーズブック
  • 西川治. 走査型プローブ顕微鏡-STMからSPMへ
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原子間力顕微鏡

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AFM

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分子操作

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