Art

J-GLOBAL ID：200902174425283308   Reference number：02A0540249

Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigations of local optical and electrical properties.

圧電カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM 局所光学及び電気特性

Author (7)： SATOH N (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KOBAYASHI K (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  WATANABE S (Nikon Corp., Kanagawa, JPN) ,  FUJII T (Nikon Corp., Kanagawa, JPN) ,  HORIUCHI T (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YAMADA H (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUSHIGE K (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
Material： Applied Surface Science  (Appl Surf Sci)
Volume： 188  Issue： 3/4  Page： 425-429  Publication year： Mar. 28, 2002 
JST Material Number： B0707B  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *force microscope ,...
Semi thesaurus term： *PZT ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0540249&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0707B") }}

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Optical microscopes,telescopes  (QF05050R)

Terms in the title (4)： 圧電カンチレバー ,  AFM ,  光学 ,  電気特性