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J-GLOBAL ID：200902174564492426   Reference number：01A0503806

Characteristics of Ion Beams Produced in a Plasma Focus Device.

プラズマフォーカス装置中で生成したイオンビームの特性

Author (7)： TAKAO K (Toyama Univ., Toyama, JPN) ,  DOI Y (Toyama Univ., Toyama, JPN) ,  HIRATA S (Toyama Univ., Toyama, JPN) ,  SHIOTANI M (Toyama Univ., Toyama, JPN) ,  KITAMURA I (Toyama Univ., Toyama, JPN) ,  TAKAHASHI T (Toyama Univ., Toyama, JPN) ,  MASUGATA K (Toyama Univ., Toyama, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 40  Issue： 2B  Page： 1013-1015  Publication year： Feb. 28, 2001 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ion beam ,...

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JST classification (1)： Electron and ion beams  (BD02030F)

Reference (7)：

• 1) R. L. Gullickson and H. L. Sahlin: J. Appl. Phys. 49 (1978) 1099.
• 2) K. Hirano, T. Yamamoto, Y. Okabe and K. Shimoda: Rev. Sci. Instrum. 58 (1987) 20.
• 3) M. J. Bernstein: Phys. Fluids 13 (1970) 2858.
• 4) G. Gerdin, W. Styger and F. Venneri: J. Appl. Phys. 52 (1981) 3269.
• 5) M. Zakaullah, I. Akhtar, G. Murtaza and A. Waheed: Phys. Plasma 6 (1999) 3188.

Terms in the title (2)： プラズマフォーカス装置 ,  イオンビーム