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J-GLOBAL ID：200902174662856665   Reference number：98A0451139

Studies on the ZrO/W(100) surface by means of low-energy electron diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy.

低エネルギー電子回折とX線光電子分光法によるZrO/W(100)表面の研究

Author (4)： SATOH H (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN) ,  KAWATA S (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN) ,  NAKANE H (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN) ,  ADACHI H (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 400  Issue： 1/3  Page： 375-382  Publication year： Mar. 12, 1998 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *zirconium oxide ,...

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JST classification (1)： Oxide thin films  (BK14050P)

Terms in the title (3)： 低エネルギー電子回折 ,  X線光電子分光法 ,  研究