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J-GLOBAL ID：200902176186957817   Reference number：02A0327517

On-the-Spot Analysis of Artifacts Excavated in Sinai Peninsula by a New Portable X-Ray Fluorescence Spectrometer Equipped with Three Excitation Sources and SDD.

新開発の3ビーム励起源とシリコンドリフト検出器を備えた可搬型蛍光X線分析装置によるシナイ半島出土遺物のその場分析の試み

Author (7)： NAKAI IZUMI (東京理大 理) ,  YAMADA SHOKO (東京理大 理) ,  TERADA YASUKO (東京理大 理) ,  NAKAJIMA YOSHIHIDE (アワーズテック) ,  TAKAMURA KOTARO (アワーズテック) ,  SHIINO HIROSHI (アワーズテック) ,  UTAKA TADASHI (アワーズテック)
Material： X線分析の進歩  (X線工業分析)
Volume： 33  Page： 331-344  Publication year： Mar. 31, 2002 
JST Material Number： Z0547B  ISSN： 0911-7806  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray fluorescence analysis ,...
Semi thesaurus term： Egypt

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JST classification (1)： Physical analysis of other substances  (CC03100M)

Terms in the title (9)： 開発 ,  ビーム ,  励起 ,  シリコンドリフト検出器 ,  可搬型 ,  蛍光X線分析装置 ,  シナイ半島 ,  遺物 ,  試み