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J-GLOBAL ID：200902176956924050   Reference number：95A1034360

Formation of Low Reflectance Surface for Electrons and Measurement of Reflection Coefficient.

電子の低反射率面の形成と反射率測定

Author (4)： FUJIMOTO TETSUYA (千葉工大) ,  ITO HARUO (千葉工大) ,  HAYASHI TOMONAO (千葉工大) ,  IKUTA NOBUAKI (千葉工大)
Material： 電気学会論文誌 A  (IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
Volume： 115  Issue： 11  Page： 1072-1077  Publication year： Nov. 1995 
JST Material Number： S0808A  ISSN： 0385-4205  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： electron swarm ,...

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JST classification (1)： Other laboratory techniques and instrumentation systems in physics  (BA02080Z)

Reference (7)：

• 小山. 昭53電気学会全大. 1977, 75
• MASSEY. Electronic and Ionic Impact Phenomena, I. 1969, 112
• 伊藤. 電学論A. 1990, 110, 363
• 伊藤. 電学論A. 1984, 104, 17
• 中村. 静電気学会誌. 1992, 16, 5, 357

Terms in the title (3)： 電子 ,  反射率 ,  反射率測定