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J-GLOBAL ID：200902183010157292   Reference number：02A0218219

Structural characterization of monolayer and regularly stacked multi-layers composed of silver nanoparticles by using X-ray reflectivity.

X線反射能を用いることによる銀ナノ粒子から成る単分子膜および規則正しく積み重なった多重層の構造特性評価

Author (9)： KUWAJIMA S (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN) ,  OKADA Y (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN) ,  YOSHIDA Y (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN) ,  ABE K (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN) ,  TANIGAKI N (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN) ,  YAMAGUCHI T (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN) ,  NAGASAWA H (Osaka City Univ., Osaka, JPN) ,  SAKURAI K (National Res. Inst. Metals, Tsukuba, JPN) ,  YASE K (National Inst. Materials and Chemical Res., Tsukuba, JPN)
Material： Colloids and Surfaces. A. Physicochemical and Engineering Aspects  (Colloids Surf A Physicochem Eng Asp)
Volume： 197  Issue： 1/3  Page： 1-5  Publication year： Feb. 04, 2002 
JST Material Number： A0539B  ISSN： 0927-7757  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *X-ray reflection ,...
Semi thesaurus term： Kiessig縞

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JST classification (2)： Metallic thin films  (BK14030T) ,  Solid-gos interface in general.  (CB12041H)

Terms in the title (6)： X線 ,  反射能 ,  銀ナノ粒子 ,  単分子膜 ,  多重層 ,  特性評価