Art

J-GLOBAL ID：200902183648275535   Reference number：96A0848665

Two-color approach for determination of thickness and dielectric constant of thin films using surface plasmon resonance spectroscopy.

表面プラズモン共鳴分光を用いた薄膜の厚さと誘電定数の決定のための二色法

Author (2)： PETERLINZ K A (George Washington Univ., Washington, D.C., USA) ,  GEORGIADIS R (George Washington Univ., Washington, D.C., USA)
Material： Optics Communications  (Opt Commun)
Volume： 130  Issue： 4/6  Page： 260-266  Publication year： Oct. 01, 1996 
JST Material Number： A0678B  ISSN： 0030-4018  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： thickness measurement ,...
Semi thesaurus term： 共鳴分光 ,...

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JST classification (2)： Spectroscopy and spectrometers in general  (BD07041Q) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Terms in the title (5)： 表面プラズモン共鳴 ,  分光 ,  薄膜 ,  誘電定数 ,  二色