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J-GLOBAL ID：200902185361033819   Reference number：02A0013143

Influence of a Quarter Wave Plate on the Modulation Depth Caused by Pockels Effect in Bi₁₂SiO₂₀ Crystal for Optical Voltage Measurement.

Bi₁₂SiO₂₀結晶を用いた光電圧測定でのλ/4板の影響

Author (4)： HIGAKI MASARU (九州共立大 工) ,  YAMAGUCHI SHIZUO (九州共立大 工) ,  FUJII KUNIO (九州共立大 工) ,  SONE ISAMU (日立 電力・電機開研)
Material： 静電気学会誌  (Journal of the Institute of Electrostatics Japan)
Volume： 25  Issue： 5  Page： 264-270  Publication year： Oct. 09, 2001 
JST Material Number： S0175A  ISSN： 0386-2550  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *bismuth compound ,...

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JST classification (2)： Electrooptical effects,magnetooptical effects  (BM08020L) ,  Measuring methods and instruments of current,voltage,charge  (AD07020C)

Reference (8)：

• CEASE, T. W. IEEE Trans. Power Delivery. 1990, 5, 548
• SAWA, T. IEEE Trans. Power Delivery. 1990, 5, 884
• KOBAYASHI, S. IEEE Trans. Power Delivery. 1992, 7, 815
• 中田安彦. 電気学会開閉保護研究会資料. 1994
• 檜垣勝. 電気学会論文誌 A. 1999, 119-A, 1445

Terms in the title (2)： 結晶 ,  電圧測定