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J-GLOBAL ID：200902186318144573   Reference number：02A0128109

Fusion of Optoelectronics and High Voltage Engineering. Near-field Scanning Optical Microscope Based on Fast Birefringence Measurement.

高速複屈折測定に基づく近接場走査光学顕微鏡

Author (2)： OHKUBO S (Tokyo Univ. Argiculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  UMEDA N (Tokyo Univ. Argiculture and Technol., Tokyo, JPN)
Material： Sensors and Materials  (Sens Mater)
Volume： 13  Issue： 8  Page： 433-443  Publication year： 2001 
JST Material Number： L0338A  ISSN： 0914-4935  CODEN： SENMER  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *optical microscopy ,...
Semi thesaurus term： 近接場走査光学顕微鏡

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JST classification (2)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S) ,  Polarization,birefringence,optical rotation  (BD03040X)

Terms in the title (2)： 複屈折 ,  近接場走査光学顕微鏡